Добро пожаловать в клуб

Показать / Спрятать  Домой  Новости Статьи Файлы Форум Web ссылки F.A.Q. Логобург    Показать / Спрятать

       
Поиск   
Главное меню
ДомойНовостиСтатьиПостановка звуковФайлыКнижный мирФорумСловарьРассылкаКаталог ссылокРейтинг пользователейЧаВо(FAQ)КонкурсWeb магазинКарта сайта

Поздравляем!
Поздравляем нового Логобуржца Asia со вступлением в клуб!

Реклама

КНИЖНЫЙ МИР

Методы и аппаратура для анализа характеристик случайных процессов   А. Ф. Котюк, В. В. Ольшевский, Э. И. Цветков

Методы и аппаратура для анализа характеристик случайных процессов

84x108/32 240 страниц. 1967 год.
Энергия
В книге излагаются вопросы изучения различных статистических характеристик случайных процессов, в том числе и нестационарных. Оценивается точность измерительных приборов и комплексов с позиций статистической теории. Обсуждаются методы изучения тонкой структуры случайных сигналов. Книга предназначена для специалистов в области измерений и электро- и радиоинженеров различных профилей.
 
- Генерация страницы: 0.06 секунд -