Добро пожаловать в клуб

Показать / Спрятать  Домой  Новости Статьи Файлы Форум Web ссылки F.A.Q. Логобург    Показать / Спрятать

       
Поиск   
Главное меню
ДомойНовостиСтатьиПостановка звуковФайлыКнижный мирФорумСловарьРассылкаКаталог ссылокРейтинг пользователейЧаВо(FAQ)КонкурсWeb магазинКарта сайта

Поздравляем!
Поздравляем нового Логобуржца alenka.aleks со вступлением в клуб!

Реклама

КНИЖНЫЙ МИР

Методы и приборы для анализа поверхности материалов   В. Т. Черепин, М. А. Васильев

Методы и приборы для анализа поверхности материалов

84x108/32 400 страниц. 1982 год.
Наукова думка
В справочнике систематизированы методы анализа химического состава, атомной и электронной структуры поверхности материалов, основанные на эмиссионных явлениях, которые возникают в процессе нагрева, приложения электрического или магнитного поля, а также при взаимодействии различного рода частиц (электронов, ионов, позитронов и др.) и электромагнитного излучения с поверхностью. Приведены схемы приборов, с помощью которых реализуются эти методы. Для облегчения понимания сути методов при описании каждого из них приведены также необходимые теоретические сведения. Рассчитан на научных сотрудников и инженеров, работающих в областях физики твердого тела; физики, химии и механики поверхности; микроэлектроники; металлургии и металловедения; геохимии и физики минералов, а также на преподавателей, аспирантов и студентов старших курсов университетов и технических вузов.
 
- Генерация страницы: 0.03 секунд -